國產掃描電鏡的成像中襯度是什么？

　　今天小編和大家分享的是國產掃描電鏡的成像中襯度是什么，具體內容如下：

　　首先要知道形成掃描透射像的原理：電子束與薄樣品在國產掃描電鏡中相互作用時，會有部分電子透過樣品，這部分透射電子也可用來成像，其形成的像就是STEM像即掃描透射像。

　　與透射電鏡相似的是，國產掃描電鏡的STEM圖像也被分為明場像和暗場像兩種。明場像的探測器安裝在國產掃描電鏡樣品的正下方，當入射電子束穿過樣品后，散射角度較小的電子經過光闌孔選擇后進入明場探測器形成透射明場像，散射角比較大的電子經DF-STEM電極板反射，由二次電子探頭接受形成暗場像。和明場像相比，國產掃描電鏡中的暗場像的信號相對較弱，下面以明場像為例。

　　而透射像的襯度就是在入射電子束與樣品發生相互作用下，形成透射電子像，當電子束穿過樣品逸出下表面時，電子束的強度發生了變化，從而投影到熒光屏上的強度是不均勻的，這種不均勻的強度就形成了透射像。

　　通常以襯度來描述透射電子所成的像，襯度指樣品電子像上相鄰區域圖像的對比度強度差，通常情況下肉眼無法分辨＜5%的襯度差別，分辨10%的襯度也難，可以用CCD相機等記錄電子化圖像，再進行可增大襯度處理，讓肉眼眼能夠分辨的出。